Společnost TESCAN, světový lídr v oblasti elektronové mikroskopii, s potěšením oznamuje nadcházející webinář na tému použití 4D-STEM metod při charakterizaci nanomateriálů a polovodičových zařízení.
Webinář se bude konat ve středu 26. dubna od 11 do 12 hodin EDT a vystoupí na něm výzkumní pracovníci z akademické sféry i průmyslu. Webinář se zaměří na využití analytických metod 4D-STEM, které poskytují bezprecedentní strukturní informace o vnitřním uspořádání na úrovni nanoměřítka.
Zúčastněte se webináře a objevte sílu analytické metody 4D-STEM
Dr. Daniel Němeček, Product Marketing Manager v TESCANu a Dr. Tingting Yang, postdoktorand v Centrum Ernsta Ruska pro mikroskopii a spektroskopii pomocí elektronů (ER-C) předvedou, jak lze tyto techniky využít k rozlišení rozložení různých materiálů a fází ve slitinách, k rozlišení zrn a rozložení pojiva v bateriových elektrodách a k odhalení architektury polovodičových zařízení v nebývalých detailech.
Webinář se bude zabývat také pokročilými technikami precese elektronového svazku a multimodálního sběru dat, které mohou zvýšit přesnost a propustnost analýzy vzorků. Na závěr přednášející představí nový přístup k získávání a analýze 4D-STEM měření za chodu pomocí nejmodernějšího analytického STEM mikroskopu.
Tato technika zpřístupňuje charakterizaci vzorků v nanorozměrech všem vědcům, inženýrům, technikům a studentům, a to i bez odborných znalostí optiky STEM nebo analýzy a následného zpracování dat 4D-STEM.
Společnost TESCAN zve všechny výzkumníky, vědce, inženýry a studenty, kteří mají zájem o aplikaci metod 4D-STEM, aby se zaregistrovali na tento informativní webinář. Nenechte si ujít příležitost seznámit se s nejnovějšími pokroky v oblasti charakterizace nanomateriálů a polovodičových zařízení! Registrujte se zde.