Podzim v TESCANu byl nabitý i z pohledu účasti na akcích. Vybíráme ty nejdůležitější z domácího i zahraničního prostředí.
Podzimní škola elektronové mikroskopie
TESCAN byl jedním z hlavních partnerů vzdělávacího kurzu pro postgraduální studenty a mladé vědecké pracovníky působící v oboru elektronové mikroskopie. Akce, pořádaná Ústavem přístrojové techniky AV ČR od 17. do 21. 10., zahrnovala teoretické přednášky i praxi přímo v laboratořích brněnských výrobců elektronových mikroskopů. Mezi úspěšnými absolventy je letos dokonce 11 našich kolegů!
Kromě toho, že jsme studenty PŠEM přivítali v laboratořích, přispěli jsme také do programu přednášek. Této role se za TESCAN zhostili Petr Klímek a Ondřej Šulák, ředitelé produktového marketingu.
![](https://www.tescan.cz/wp-content/uploads/2022/12/Sulak-2-300x201.png)
Účastníci Podzimní Školy Elektronové Mikroskopie
Workshop Correlative Materials Characterization 2022 (CMC), Drážďany, Německo
Dvoudenní workshop pořádaný Institutem Maxe Plancka pro molekulární buněčnou biologii a genetiku 13.–14. října svedl dohromady komunity z materiálových věd, věd o živé přírodě a polovodičového průmyslu, aby prozkoumaly společné zájmy.
TESCAN reprezentovali kolegové z Německa a Tomáš Šamořil, produktový marketingový manažer pro materiálové vědy, se svou přednáškou „Correlation of Microscopy Techniques for Materials Science Research“.
![](https://www.tescan.cz/wp-content/uploads/2022/12/samoril.jpg)
Tomáš Šamořil, produktový marketingový manažer, na CMC workshopu v Německu
Chalmers Microscopy School, Göteborg, Švédsko
Akce na Technické univerzitě Chalmers se účastnil náš partner NordicNano Solution AB společně s kolegy z Brna – Martinem Suchánkem, Martinem Slámou a Maksymem Klymovem. Martin Sláma vystoupil s přednáškou „Nejnovější pokroky v technikách FIB-SEM“ a Maksym s přednáškou „Analytická 3D charakterizace“, kterou doplnil o školení na mikroskop TESCAN FIB-SEM.
![](https://www.tescan.cz/wp-content/uploads/2022/12/SLama-300x225.jpg)
Martin Sláma, produktový marketingový manažer pro materiálové vědy, na Chalmers Microscopy School ve Švédsku
International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2022), Pasadena, USA, 30. 10. – 3. 11. 2022
Letošní ročník byl nabitý mnoha inovacemi a informacemi z oblasti testování a analýzy defektů. Tým TESCAN USA doplnili brněnští kolegové Lukáš Hladík, produktový marketingový manažer pro polovodiče, a Karel Novotný, produktový manažer. Na setkání uživatelů FIB-SEM mikroskopů vystoupili s přednáškou „Using Delayering for 3D NAND (Memories) Analysis”.
![](https://www.tescan.cz/wp-content/uploads/2022/12/ISTFA-01-300x157.jpg)
International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2022)
Wiley Analytical Science Conference
Do programu konference, která se uskutečnila 16. listopadu, přispěl webinářem „Optimization of Cryo-TEM Lamella Preparation Workflows to Be Faster and More Accessible” Jakub Javůrek, produktový marketingový manažer pro živé vědy, ve spolupráci s Dominikem Pinkasem z Ústavu molekulární genetiky AV ČR.
Cílem webináře bylo ukázat, jak dosáhnout rychlejšího a optimalizovaného pracovního postupu kryoelektronové tomografie se zmrazenými hydratovanými vzorky pomocí TESCAN AMBER X. Díky zjednodušení celého procesu je nový pracovní postup výrazně rychlejší. Navíc je optimalizován pro držáky TEM s bočním vstupem, aby byla metoda přístupná širší mikroskopické komunitě.
![](https://www.tescan.cz/wp-content/uploads/2022/12/MicrosoftTeams-image-140-300x157.jpg)
Webinar Optimization of Cryo TEM lamella preparation workflows to be faster and more accessible