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MEV-FEG Ultra-alta Resolução para caracterização de nanomateriais em escala subnanométrica

  • Imagens de alta resolução e alto contraste de materiais de última geração (por exemplo, estruturas catalisadoras, nanotubos, nanopartículas e outras estruturas em nanoescala)
  • Excelente plataforma adequada para metrologia MEV/STEM em escala sub-nanométrica
  • Configuração rápida do feixe de elétrons – condições ideais de imagem são garantidas pelo In-Flight Beam Tracing™

  • Sistema multi-detector TriBE™ e TriSE™ para nanocaracterização de amostras
  • Plataforma modular de software intuitiva projetada para operação sem esforço, independentemente do nível de habilidade dos usuários