TESCAN
menu
Sledujte nás:

Vybrané články

Nejnovější články

MAGNA TESCAN

SEM UHR para caracterización de nanomateriales a escala subnanométrica

  • Imágenes de alta resolución con alto contraste de materiales de siguiente generación (por ejemplo estructuras catalizadoras, nanotubos, nanopartículas y otras estructuras a nanoescala)
  • Excelente plataforma adecuada para metrología SEM/STEM a escala subnanométrica
  • Rápida configuración del haz de electrones – las óptimas condiciones de imagen están garantizadas por In-Flight Beam Tracing™

  • Sistema multidetector TriBE™ and TriSE™ para nanocaracterización de muestras
  • Software intuitivo de plataforma modular diseñada para operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de habilidad de los usuarios