- Caracterização total de todos os tipos de materiais em nanoescala
- Ideal para caracterização de materiais em baixa aceleração de feixe para máxima topografia da superfície
- Excelente imagem de amostras sensíveis ao feixe e não condutoras
- Configuração totalmente automatizada do feixe de elétrons – condições ótimas de imagem são garantidas pelo In-Flight Beam Tracing ™
- Navegação intuitiva do MEV ao vivo na amostra com baixa ampliação 2 vezes, sem a necessidade de câmera de navegação óptica extra, graças ao design Wide Field Optics ™
- Design exclusivo do detector múltiplo, permitindo detecção seletiva de BSE em ângulo e energia
- Plataforma modular de software intuitiva projetada para operação sem esforço, independentemente do nível de habilidade dos usuários
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- Nanotubos de Ti
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- Nanoporos de Au sobre Si
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- Espaço interlamelar em perlita de ferro fundido