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TESCAN AMBER X

Uma combinação única de FIB de plasma e MEV-FEG de Ultra-alta Resolução livre de campo para caracterização de materiais em múltiplas escalas

Hlavní stránka TESCAN AMBER X

  • Processamento FIB de grande área e alta produtividade até 1 mm
  • Preparação de microamostras sem implantação de Ga
  • Imagens e análises MEV-FEG de Ultra-alta Resolução livre de campo
  • Detecção SE e BSE na lente (in lens)

  • Otimização da resolução para tomografia MEV-FIB multimodal de alto rendimento
  • Campo de visão superior para facilitar a navegação
  • Interface gráfica de usuário modular de fácil uso, Essence ™