TESCAN
menu
Sledujte nás:

Vybrané články

Nejnovější články

AMBER TESCAN

FIB-SEM nano analítico versátil para amplias capacidades de investigación de materiales

Hlavní stránka AMBER TESCAN

  • Preparación de micro muestras con alta precisión
  • Imagen SEM libre de campos con ultra alta resolución con nano análisis
  • Campo de visión extendido con fácil navegación.
  • Automatización multisitio del proceso.

  • Tomografía FIB-SEM multimodal.
  • Interfaz de usuario con software modular de fácil uso.
  • Atractivos paquetes opcionales para diversas aplicaciones.