Progress in FIB SEM applications seems to be never stopping and our product development and research is going through paces year by year. The very latest ORAGE FIB Column from Orsay Physics is providing us with leading FIB capabilities and we are organizing this TESCAN FIB USER MEETING 2017 with aim to share our knowledge of advanced FIB techniques. This event is by invitation only.
Cesta generálního ředitele společnosti TESCAN Jaroslava Klímy od vášně k úspěchu v elektronové mikroskopii v magazínu Microscopy&Analysis
„Ještě před deseti lety jsem měl sen, že vybuduji český Siemens, ale nežijeme v 19….
29. 03. 2023
Zobrazit více