International Symposium for Testing and Failure Analysis
Cesta generálního ředitele společnosti TESCAN Jaroslava Klímy od vášně k úspěchu v elektronové mikroskopii v magazínu Microscopy&Analysis
„Ještě před deseti lety jsem měl sen, že vybuduji český Siemens, ale nežijeme v 19….
29. 03. 2023
Zobrazit více